tabuchi:ey-cey
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tabuchi:ey-cey [2024/04/26 07:56] – [3.2 観察深さの測定] mtab | tabuchi:ey-cey [2024/04/26 10:11] – [3.3 表面敏感性] mtab | ||
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行 83: | 行 83: | ||
[信号強度] & = & C \int_0^{L_A} \exp -\frac{x}{\lambda_A} dx \\ | [信号強度] & = & C \int_0^{L_A} \exp -\frac{x}{\lambda_A} dx \\ | ||
& = & C [ -\lambda_A \exp -\frac{x}{\lambda_A} ]_0^{L_A} \\ | & = & C [ -\lambda_A \exp -\frac{x}{\lambda_A} ]_0^{L_A} \\ | ||
- | & = & \lambda_A | + | & = & C \lambda_A \{ 1 - \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} \} |
\end{eqnarray} | \end{eqnarray} | ||
- | 「討論会資料」では、「表面 / ZrO$_2$(厚さ$L_A$) / GaAs基板」、「表面 / ZrO$_2$(厚さ$L_A$) / Si基板」で$L_A$を変えた試料セットを準備し、 | + | 「討論会資料」では、「表面 / ZrO$_2$(厚さ$L_A$) / GaAs基板」、「表面 / ZrO$_2$(厚さ$L_A$) / Si基板」構造で$L_A$を変えた試料セットを準備し、 |
膜A中の元素の吸収端 Zr-K, Zr-L、膜B中の元素の吸収端 Ga-K, As-K, Si-K について$L_A$に対する「信号強度」を測定し、 | 膜A中の元素の吸収端 Zr-K, Zr-L、膜B中の元素の吸収端 Ga-K, As-K, Si-K について$L_A$に対する「信号強度」を測定し、 | ||
その結果に対して上記の式をフィッティングすることで $\lambda_A$ (A = Zr)を求めている。 | その結果に対して上記の式をフィッティングすることで $\lambda_A$ (A = Zr)を求めている。 | ||
+ | |||
+ | ==== - 表面敏感性 ==== | ||
+ | |||
+ | ここでそもそも知りたかったどの程度「表面敏感」なのか「バルクが見えているか」について考える。 | ||
+ | 前節と同じ「表面 / 膜A(厚さ$L_A$) / 膜B(厚さ$\infty$)」という構造で、膜A、膜Bに共通に含まれている元素が測定対象の場合を考えることになる。 | ||
+ | 「表面敏感であってほしい」と思っているときには「膜A」からの信号が大事で、「バルクを見たい」と思っているときには「膜B」の信号が大事でなるべく「膜A」の影響が少ないことが望ましい。 | ||
+ | そこで、[全信号]に占める[膜Bに起因した信号]の強度の割合を考えてみる | ||
+ | \begin{eqnarray} | ||
+ | | ||
+ | & = & C \lambda_A \{ 1 - \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} \} + C \lambda_B \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} \\ | ||
+ | & = & C \lambda_A - C \lambda_A \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} + C \lambda_B \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} \\ | ||
+ | & = & C \lambda_A - C ( \lambda_A - \lambda_B ) \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} | ||
+ | \end{eqnarray} | ||
+ | \begin{eqnarray} | ||
+ | | ||
+ | & = & \frac{ \lambda_B \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} }{ \lambda_A - (\lambda_A - \lambda_B) \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} } \\ | ||
+ | \end{eqnarray} | ||
+ | |||
+ | === - $\lambda_A \simeq \lambda_B$ の場合 === | ||
+ | |||
+ | 膜Bの表面が変質することが予想されていて、その変質を見たい場合(表面敏感希望)や、その変質を無視したい場合(表面鈍感希望)など、 | ||
+ | $\lambda_A \simeq \lambda_B$ と近似できることが多いと予想される。 | ||
+ | その時には、 | ||
+ | \begin{eqnarray} | ||
+ | [膜Bの割合] & = & \frac{ \lambda_B \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} }{ \lambda_A - (\lambda_A - \lambda_B) \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} } \\ | ||
+ | & = & \frac{\lambda_B}{\lambda_A}\frac{ \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} }{ 1 - (1-\lambda_B/ | ||
+ | & \simeq & \exp -\frac{L_A}{\lambda_A} | ||
+ | \end{eqnarray} | ||
+ | となる。具体的な数字は次のようになる。 | ||
+ | |||
+ | <WRAP center 90%> | ||
+ | ^ $L_A$ ^ $[Bの割合]$ | ||
+ | | $\sim \lambda_A/ | ||
+ | | $\sim \lambda_A/ | ||
+ | | $\sim \lambda_A/ | ||
+ | | $\sim \lambda_A$ | ||
+ | | $\sim 2\lambda_A$ | ||
+ | | $\sim 4\lambda_A$ | ||
+ | </ | ||
+ | |||
+ | この数字を見ると、「表面敏感」を期待するときには「観察深さの2~4倍」ぐらいは見てしまっていること、 | ||
+ | 「バルクを見ること」を期待するときには変質した表面は厚さが「観察深さの1/ | ||
+ | を知っておく必要があります。 | ||
+ | |||
+ | === - $\lambda_A \neq \lambda_B$ の場合 === | ||
+ | その都度評価をするしかないが、方針としては上記と同様の手続きを踏めばよいので、それほど難しくはない。 | ||
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tabuchi/ey-cey.txt · 最終更新: 2024/05/20 08:35 by mtab